MX63和MX63L顯微鏡

MX63和MX63L顯微鏡用於材料學的配置₪▩☁╃☁：

1·✘、BX53M反射和反射/透射觀察BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機架◕✘，一種僅用於反射光◕✘，一種用於反射光和透射光組合◕·☁▩₪。兩種機架都可配置手動·✘、編碼或電動部件◕✘，並且都配備有ESD防靜電功能◕·☁▩₪。

2·✘、BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機架◕✘，一種僅用於反射光◕✘，一種用於反射光和透射光組合◕·☁▩₪。兩種機架都可配置手動·✘、編碼或電動部件◕✘，並且都配備有ESD防靜電功能◕·☁▩₪。IR物鏡可用於透過矽材料成像◕✘，進行半導體檢查和測量◕·☁▩₪。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡◕✘，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正◕·☁▩₪。對於高放大倍率的物鏡◕✘，配備了LCPLN-IR系列帶校正環的物鏡◕✘，校正由樣品厚度導致的像差◕·☁▩₪。使用一個物鏡即可獲取清晰的影象

3·✘、BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像◕✘，是地質學家的理想之選◕·☁▩₪。比如礦物鑑定·✘、晶體光學特性的分析和岩石薄片的鑑定等各種研究◕✘，都得益於穩定的顯微鏡系統性和精密的光學系統◕·☁▩₪。

MX63和MX63L顯微鏡系統支援檢測尺寸達300毫米的晶圓·✘、平板顯示器·✘、印刷電路板以及其他樣品的質量◕·☁▩₪。這些符合人體工學設計的人性化系統採用模組化設計◕✘，可在各種應用中實現理想的觀察條件◕·☁▩₪。結合奧林巴斯Stream影象分析軟體使用時◕✘，從觀察到生成報告的整個檢測流程更簡潔直觀◕·☁▩₪。

滿足電子行業需求₪▩☁╃☁：

應用反射光顯微鏡在很多應用和行業中普遍應用◕·☁▩₪。以下是採用不同的觀察方法所達到的一些效果示例◕·☁▩₪。

暗場/MIX·✘、熒光/MIX·✘、投射/MIX·✘、微分干涉·✘、偏光紅外（IR)