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反射式膜厚測量儀

更新時間✘•:2022-04-21

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簡要描述✘•:

A3-SR-100 反射式膜厚測量儀可用於測量半導體鍍膜╃▩✘·│,手機觸控式螢幕 ITO 等鍍膜厚度╃▩✘·│,PET 柔性 塗布的膠厚等厚度╃▩✘·│,LED 鍍膜厚度╃▩✘·│,建築玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合₪◕₪↟。A3-SR-100 可用於測量 10 奈米到 100 微米的膜厚╃▩✘·│,測量精度達到 0.1 奈米₪◕₪↟。 在折射率未知的情況下╃▩✘·│,A3-SR-100 還可用於同時對摺射率和膜厚進行測量₪◕₪↟。此外╃▩✘·│,A3-SR-100還可用於精確測量樣品

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,化工,建材,電子,交通

A3-SR-100反射式膜厚測量儀可用於測量半導體鍍膜╃▩✘·│,手機觸控式螢幕 ITO 等鍍膜厚度╃▩✘·│,PET 柔性 塗布的膠厚等厚度╃▩✘·│,LED 鍍膜厚度╃▩✘·│,建築玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合₪◕₪↟。A3-SR-100 可用於測量 10 奈米到 100 微米的膜厚╃▩✘·│,測量精度達到 0.1 奈米₪◕₪↟。 在折射率未知的情況下╃▩✘·│,A3-SR-100 還可用於同時對摺射率和膜厚進行測量₪◕₪↟。此外╃▩✘·│,A3-SR-100還可用於精確測量樣品 的顏色和反射率₪◕₪↟。樣品光斑在 1 毫米以內₪◕₪↟。

A3-SR-100反射式膜厚測量儀進行測量簡單可靠╃▩✘·│,實際測量取樣時間低於 1 秒₪◕₪↟。配合我們的 Apris SpectraSys 軟 件進行手動測量╃▩✘·│,每次測量時間低於 1 秒₪◕₪↟。Apris SpectraSys 支援 20 層膜以內的模型並可對 多層膜厚引數進行測量₪◕₪↟。Apris SpectraSys 軟體還擁有近千種材料的材料資料庫╃▩✘·│,同時支援 函式型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz),混合型 (Maxwell Garnett, Bruggeman)EMA 等折射率模型₪◕₪↟。 同時╃▩✘·│,客戶還可以透過軟體自帶資料庫對材料╃▩✘·│,選單進行管理並回溯檢查測量結果₪◕₪↟。

配手持式探頭,A3-SR-100可以用來一鍵式測量車燈罩表面硬化膜(包括過渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量內飾件,外飾件的鋁陽極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um₪◕₪↟。


A3-SR-100系統引數✘•:

1.產品尺寸✘•: W270*D217*(H90+H140)mm  

2.測試方式✘•:可見VIS 反射(R)          

3.波長範圍:380nm - 1050 nm

4.光源: 進口 鎢鹵素燈 壽命10000小時  

5.光路和感測器:光纖式(FILBER,進口 )+進口光譜儀  

6.入射角:0 度 (垂直入射)  (0 DEGREE)

7.參考光樣品: 矽片  

8.光斑大小✘•:About 1 mm(標配╃▩✘·│,可以根據使用者要求配置)

9.樣品大小✘•:10 mm TO 300 mm (可以根據使用者要求配置)

10.測試方式✘•:反射

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